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传统光学成像系统的空间/角分辨率受限于阿贝-瑞利衍射极限，而在此限制下，一般通过增大成像系统数值孔径或有效口径来提高空间/角分辨率。然而，成像发展到现阶段，增大数值孔径或有效口径在实现成本及难度上均已是挑战。而超分辨成像技术为获得超衍射极限成像提供了可能。